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Caracterización precisa del accesorio de prueba y consideración

Publicado por: Rohde & Schwarz

Para las mediciones de dispositivos no connectorizados, los accesorios de prueba, las sondas u otras estructuras se utilizan para adaptarse de la interfaz coaxial de la configuración de prueba al dispositivo en la prueba (DUT). Para las mediciones precisas del DUT, estos plomo y plomo deben caracterizarse, de modo que sus efectos se puedan eliminar matemáticamente, es decir, deshacerse de los resultados de la medición.
Esta nota de aplicación proporciona sugerencias prácticas para caracterizar y eliminar con precisión estas estructuras de plomo y liderazgo con analizadores de red vectoriales R&S ZNA, ZNB, ZNBT y ZND. Como la eliminación de incrustaciones también es esencial en otros equipos de prueba como los osciloscopios, etc., esta guía también describe, cómo los plomo y los pistas se pueden caracterizar con precisión con un VNA y luego exportarse como un archivo de parámetro S para ser utilizado por Otros instrumentos de prueba.

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Idioma: ENG
Type: Whitepaper Longitud: 23 páginas

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