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El efecto de la oxidación de la superficie en el rendimiento y confiabilidad del inductor de IHLP

Publicado por: Vishay Intertechnology

Bajo ciertas condiciones ambientales, como la alta humedad y las temperaturas elevadas o en presencia de contaminación iónica, se ha encontrado que se forma una ligera cantidad de oxidación de la superficie en la superficie de un pequeño porcentaje de inductores de IHLP.
El siguiente informe contiene detalles de construcción, los resultados del análisis y un resumen de las pruebas de confiabilidad realizadas con respecto a la formación de la oxidación de la superficie.
Descargue este documento técnico para obtener más información.

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Idioma: ENG
Type: Whitepaper Longitud: 18 páginas

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